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湿度敏感等级试验

广电计量可以做AEC-Q-100认证报告,AEC-Q-101认证报告,AEC-Q-102认证报告, AEC-Q-104认证报告,AEC-Q-200认证报告,元器件筛选,破坏性物理分析,NVH测试,联系人: 詹俊强

广州广电计量检测股份有限公司(股票简称:广电计量,股票代码:002967)始建于1964年,是原信息产业部电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平.

IPC/JEDEC J-STD-020D吸湿敏感、湿度敏感性试验(MSL Test)

吸湿敏感、湿度敏感性试验(MSL Test),即在确认芯片样品是否因含有过多水份,使得在SMT回焊(Reflow)组装期间,造成芯片脱层(Delamination)、裂痕(Crack)、爆米花效应,导致寿命变短或损伤. 
测试流程待测物需先执行「初始电性测试」、「外观检查」、与「超音波检验」,确认待测物初始状况(是否有脱层Delamination、裂痕Crack等),做为实验后的数据比对.接着,执行125「烘烤」24小时、接着执行「吸湿」与「回焊Reflow」试验.进行Reflow时,亦须特别小心是否会有爆米花效应(爆裂).
测试条件湿敏等级区分在上述流程中大差异为元器件吸湿条件,等级分布为等级1至等级 6.

试验条件依据「有铅制程(Sn-Pb Eutectic Assembly)」与「无铅制程(Pb-Free Assembly)」使用的Reflow Profile有所不同.

Profile FeatureSn-Pb Eutectic AssemblyPb-Free Assembly
Preheat & Soak
Temperature min(Tsmin)
Temperature max(Tsmax)
Time(Tsmin to Tsmax) (Ts)100 
150 
60-120 seconds150 
200
60-120 seconds
Average ramp-up rate
(Tsmax to Tp)3 /second max3 /second max.
Liquidous temperature(TL)
Time at liquidous(tL)183

60-150 seconds217
60-150 seconds
Peak PACkage body temperature(Tp)*See classification temp in Table classification temp in Table
Time(Tp)** within 5 of the specified
classification temperature (Tc)20** seconds30** seconds
Average ramp-down rate(Tp to Tsmax)6 /second /second max.
Time 25 to peak temperature6 minutes minutes max.

失效模式失效判定包括外观损坏破裂、电性测试失效、内部破裂(Internal Crack)、结构脱层(Delamination)位置与比例问题.另外,若选用之吸湿等级经此试验后失效,得选择较不严苛条件重新再进行验证.终之等级需标示于元器件外包装上.